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本低溫試驗箱滿足GB2423.1－2001試驗A《高溫試驗方法》; GB2423.2－2001試驗B《低溫試驗方法》以及其它相關(guān)標準的要求。嚴格按GB 10592—89《高低溫試驗箱技術(shù)條件》進行設(shè)計制造，可進行相應(yīng)高、低溫環(huán)境試驗。
更新時間：2016-07-30
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本低溫試驗箱可以用來考核和確定電工電子產(chǎn)品或材料在溫度變化的環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性。設(shè)備采用強迫空氣循環(huán)來保持工作室內(nèi)溫度的均勻性。
主要技術(shù)參數(shù)
l 型號： GDW－100D型
l 工作室尺寸（D×W×H）： 450×450×500㎜
l 溫度范圍： －
l 溫度均勻度： ≤
l 溫度波動度： ±
l 溫度偏差： ≤±
l 升降溫速率： 0.7℃～
l 時間設(shè)定范圍： 0～999 小時
設(shè)備使用條件 l 環(huán)境溫度： l 環(huán)境濕度：≤85% l 電源要求：AC380（ ±10%）V/50HZ 三相五線制 l 預(yù)裝容量：5KW
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